求知欲促使我們以任何能想到的方式去探索事物的本質(zhì)。我們通過觀測來揭示周邊的世界，并不斷追求技術改進。功夫不負有心人，蔡司又一次將X射線顯微鏡檢測技術提升到了新的高度，我們現(xiàn)在可以用它來做到這一點。

鋰離子電池概覽掃描

我們現(xiàn)在無需切開蘋果，就可以測量蘋果籽的大小，還可以查看運行中的電池的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。這聽起來像是魔法一般，但它實際上是一種名為RaaD能力（遠距離分辨率）的先進分析技術，多應用于先進的X射線顯微鏡中。它可以實現(xiàn)無失真成像，即被照亮的標本保持完整，而且無需前期的諸多準備工作。由此一來，研究人員和開發(fā)人員便可以在受控條件下獲得材料微觀結(jié)構(gòu)的三維圖像，并實時看到熱、張力和壓力的影響——也就是所謂的原位成像。

克服X射線計算機斷層掃描中的障礙

盡管X射線計算機斷層掃描技術已經(jīng)取得了很大的進步，但它仍然面臨著一個重大的挑戰(zhàn)：即使是在樣本尺寸較大的情況下，也必須保證X射線圖像的分辨率，以便與X射線源保持更大的距離。因此，X射線顯微鏡即使在遠距離上也必須實現(xiàn)速度快、對比度強、分辨率高的目標。

 
ZEISS Xradia X 射線顯微鏡的RaaD功能已經(jīng)給客戶留下了深刻的印象，并被全球頂尖的研究人員和科學家所使用。但為了滿足對更高的速度、分辨率和對比度不斷增長的需求，并繼續(xù)克服3D成像方面的阻礙，蔡司專家于2019年1月推出了下一代X射線顯微鏡——ZEISS Xradia 600系列。由于其真正的空間分辨率為500納米，體素大小為40納米，并增加了X射線源的功率，所以在研發(fā)領域，ZEISS Xradia 610 和 620 Versa在提升X射線成像速度的同時，并沒有以犧牲亞微米級高分辨率為代價。

這一突破通過高性能的25瓦X射線源實現(xiàn)，它的處理量比前幾代更高．但由于加強了熱管理，分辨率并未受到影響。此外，新的X射線源控制系統(tǒng)大大縮短了響應時間。掃描更快、試驗數(shù)量更多、對比度更高——即使看起來像魔術一般，但它仍然有進一步改進的空間。

高分辨率還要高速度——為什么不能兩者兼得？

ZEISS Xradia Versa X射線顯微鏡避開了傳統(tǒng)X射線計算機斷層掃描面臨的典型難題：雖然高能量的X射線使掃描速度更快，但這樣卻會對圖像分辨率產(chǎn)生負面影響。此外，如果想要使用這些基于項目的傳統(tǒng)X射線顯微鏡來獲得更高的分辨率必須使樣品盡可能靠近輻射源，而這便會不可避免地限制適用物體的尺寸。ZEISS Xradia 600系列成功消除了這些限制性因素。它將高性能X射線源連接到獨特的兩級放大光學系統(tǒng)，可以生成亞微米范圍內(nèi)的高分辨率圖像，樣本大小和類型的范圍都很廣，而且速度也很快?？蛇x的平板探測器( FPX)可用于分析重達 25 公斤的樣品。

為用戶帶來無與倫比的靈活性

蔡司工業(yè)顯微鏡解決方案主管 Robert Zarnettat 博士說：“Xradia 600 Versa X射線顯微鏡為用戶提供了非常高的靈活性?！毙颖荆叻直媛省虼髽颖?，低分辨率：不再是兩難的選擇?！睙o論是在電子和半導體行業(yè)、增材制造、原材料行業(yè)還是醫(yī)療技術領域，ZEISS Xradia 600 Versa X射線顯微鏡都能通過三維測量深入揭示物體的內(nèi)部特征，并為這一過程增加了一個新維度——時間維度。由此，原材料生產(chǎn)商和材料科學家能夠了解其產(chǎn)品在不同條件下如何正確地發(fā)揮作用。與所有蔡司X射線顯微鏡一樣，新一代X射線顯微鏡也會不斷升級更新。這樣，蔡司便可以確保客戶在當前和未來都能揭示事物真實的特征。