2025年6月10日至13日，長春國際光電博覽會即將啟幕。在全球光電與半導體產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的浪潮下，蔡司工業(yè)質(zhì)量解決方案將攜創(chuàng)新成果、旗艦機型首度亮相展會，與行業(yè)共探精密制造的質(zhì)控新篇章！

產(chǎn)業(yè)躍遷催生檢測變革

作為中國光電產(chǎn)業(yè)的“發(fā)源地”，長春近年來不斷推動光電信息產(chǎn)業(yè)集群集聚，培育發(fā)展光電信息產(chǎn)業(yè)的新質(zhì)生產(chǎn)力。而隨著5G通信、智能駕駛、新型顯示等技術(shù)的突破，推動著半導體器件走向更小制程、光電元件趨向更高集成度。微米級結(jié)構(gòu)檢測、納米級缺陷捕捉、全流程數(shù)據(jù)追溯，已成為產(chǎn)業(yè)升級的必經(jīng)之路。蔡司深諳此道，以180余年光學技術(shù)積淀，成為半導體產(chǎn)業(yè)破局微觀檢測困局的「光之刃」。以光電聯(lián)用解決方案為引擎，驅(qū)動故障分析從“事后追溯”邁向“前瞻預(yù)判”。這不僅是對半導體設(shè)備質(zhì)量控制的革新，更是為產(chǎn)業(yè)升級構(gòu)筑一條堅不可摧的“質(zhì)量護城河”。

邀請函

2025年長春國際光電博覽會

時間： 6月10日- 13日

地點： 長春東北亞國際博覽中心

展位號：A1館C04

部分檢測解決方案搶先看

 看點1

光學部件高精度解決方案

挑戰(zhàn)及需求

挑戰(zhàn)1：傳統(tǒng)VMM測量方式是使用定制小球放入V型槽里來獲取中心，效率較低

挑戰(zhàn)2：普通三坐標很難保證微米級別高精度、高重復性的測量結(jié)果

需求1：測量鏡片同軸度以及圓度如何保證有高效，高精度，高重復性的結(jié)果？

需求2：鏡頭模具微米級別的精度，怎樣保證測量結(jié)果的準確性？

蔡司解決方案

硬件：PRISMO 9/15/7 verity

軟件：CALYPSO

優(yōu)勢1：ZEISS CALYPSO 自定心功能

優(yōu)勢2：蔡司旗艦型高精度坐標測量機，精度可達0.7um,VAST gold的測頭分別率可達50nm

 看點2

承載盤標準機解決方案

挑戰(zhàn)及需求

挑戰(zhàn)1：解決目前圖紙全尺寸測量需要VMM、CMM、千分尺、高度規(guī)等多種測量儀器，效率低下，精度也難以保證的問題

挑戰(zhàn)2：提升測量效率，保證測量精度

需求1：圖紙全尺寸測量

需求2：高精度測量機可作為標準機來使用

蔡司解決方案

硬件：O-INSPECT 8/6/3 DUO

軟件：CALYPSO

優(yōu)勢1：多測頭復合式測量機滿足各種需求

優(yōu)勢2：高精度測量機，可用于全尺寸測量，適用于平面及成型工件，對大型工件無損檢測

優(yōu)勢3：適用于各種工件測量，無論是小型的還是大型

更多蔡司高效質(zhì)量解決方案

6月10日-13日，蔡司與您相約長春東北亞國際博覽中心A1-C04展位。