在傳統(tǒng)的測(cè)量作業(yè)中，部分被測(cè)件可能存在著自由曲面讀取困難的問(wèn)題，給后續(xù)的比對(duì)或者CAD的建模造成影響，那么對(duì)于這一類的問(wèn)題，測(cè)量方式的創(chuàng)新是否能夠帶來(lái)這一系列問(wèn)題的改善，本文或許可以給你一點(diǎn)新的思路。

本次白皮書(shū)將提到：

光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)為用戶帶來(lái)了什么改變？ 

三維光學(xué)掃描系統(tǒng)測(cè)量速度到底有多快？

三維光學(xué)掃描系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？ 

如何避開(kāi)三維光學(xué)掃描系統(tǒng)的局限性，獲得最佳掃描結(jié)果