由于檢測效率低下，半導(dǎo)體晶圓制造工藝經(jīng)常產(chǎn)生不必要的材料和時(shí)間浪費(fèi)。

當(dāng)激光噪聲用作晶圓檢測的測量方法時(shí)，在這種環(huán)境下可能實(shí)現(xiàn)非常精確的計(jì)量工藝。但是，某些激光特性的變化可能會錯誤地標(biāo)識晶圓上的錯誤，從而導(dǎo)致誤報(bào)的產(chǎn)生，因此，會導(dǎo)致可避免的廢品率增加，最終浪費(fèi)材料和處理時(shí)間。

通過利用具有長期功率穩(wěn)定性的超低噪聲激光器，可以在很大程度上消除這一問題，該激光器專為此類要求苛刻的 24/7 檢測應(yīng)用而設(shè)計(jì)。下載白皮書了解更多